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机译:用于校准原子力显微镜侧向力测量的简单且直接的方法
Wenhua Liu; Keith Bonin; Martin Gutholda;
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机译:利用攻丝模式原子力显微镜对分岔进行分岔 校准时变尖端样本力测量
机译:使用被动漂移补偿的非接触式原位校准原子力显微镜进行原子间力测量—通过亚原子横向分辨率的直接力测量来量化电子轨道之间的化学键合力
机译:使用被动漂移补偿的非接触式原位校准原子力显微镜进行原子间力测量-通过在亚原子横向分辨率下的直接力测量来量化电子轨道之间的化学键合力
机译:通过无源漂移补偿原位校准的原子力显微镜进行原子间力测量,通过在亚原子横向分辨率的情况下通过直接测量力来量化电子轨道之间的化学结合力
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